Interface inLux™ SEM Raman
Univerzální řešení in situ Ramanovy analýzy SEM.
Inovativní interface inLux™ SEM Raman nabízí vysoce kvalitní Ramanovu funkci pro váš rastrovací elektronový mikroskop (SEM). Nyní můžete shromažďovat Ramanova spektra, schopná produkovat 2D i 3D obrazy během simultánního zobrazování SEM. Mezi režimy SEM zobrazování a shromažďování Ramanových dat zůstává vzorek statický, takže při porovnávání Ramanových obrazů a obrazů SEM si můžete být jisti přesným umístěním vzorku.
Interface inLux nabízí komplexní rozsah možností Ramanovy spektroskopie. Můžete shromažďovat spektra z jednotlivých bodů, z více bodů nebo generovat 2D a 3D konfokální Ramanovy obrazy. Interface inLux je standardně plně vybavený pro všechny tyto úlohy, což umožňuje analyzovat oblasti větší než 0,5 mm v každé ose. Je vybaven plnou kontrolou polohy až do 50 nm, což je zárukou přesného Ramanova zobrazování.
Hlavní přínosy
- Bohaté informace - Ramanova, fotoluminiscenční (PL) a spektrální katodoluminiscenční (CL) analýza probíhají současně a jsou kolokovány se zobrazením SEM.
- Univerzální - Interface inLux lze montovat na celou řadu rastrovacích elektronových mikroskopů (SEM) různých výrobců, s různými rozměry komory a bez jakýchkoli úprav SEM.
- Neinvazivní - Sondu inLux lze plně odsunout jediným kliknutím. To zaručuje, že když se sonda nepoužívá, neinterferuje s jinými funkcemi SEM nebo postupy.
- Stanovení distribuce - Konfokální Ramanovy obrazy lze vytvářet standardně, což umožňuje snadné měření heterogenity vzorku.
- Zobrazení vzorku - Veliká oblast optického zobrazení pro vizualizaci vzorku a zaměření oblasti zájmu.
- Konfigurovatelnost - Až dvě různé excitační vlnové délky laseru plus volitelný CL modul.
- Automatizace - Přepínání vlnových délek laseru jedním kliknutím pro Ramanovu analýzu významných vzorků.
Aplikace interface inLux
Identifikace kontaminantů
Ramanova spektroskopie je nekontaktní a nedestruktivní metoda, poskytující vysoce specifické chemické informace, což je ideální pro identifikaci kontaminantů. Ramanova spektroskopie je zvláště účinná pro analýzu karbonových a organických kontaminantů, které by byly s použitím elementární analýzy obtížně rozlišitelné. Rastrovací elektronový mikroskop (SEM) slouží pro lokaci a studium morfologie malých částeček kontaminantu, které nelze rozlišit optickou mikroskopií. Tyto částečky lze navíc pomocí interface inLux přímo zacílit pro Ramanovu analýzu, aniž by bylo nutno pohybovat vzorkem.
Analýza materiálu
Mnohé nové vlastnosti vykazované materiály vyplývají z jejich rozměrů, tvaru nebo tloušťky. Grafen, nanovlákna a nanotrubice jsou příklady, kdy je zvětšení skenovací elektronové mikroskopie rozhodující pro vizualizaci vzorku. Ramanova spektroskopie může poskytnout informace o fyzikálních vlastnostech, jakož i odhalit chemickou a strukturální povahu materiálu. Interface inLux může generovat obrazy ilustrující krystaličnost, zatížení a elektronické vlastnosti, které lze korelovat s obrazy SEM.
Připojení k různým Ramanovým systémům společnosti Renishaw
Interface inLux se používá ve spojení se špičkovými Ramanovými spektrometry a softwarem společnosti Renishaw. Díky intuitivnímu a snadnému ovládání to umožňuje komplexní zpracování i analytické možnosti. Interface inLux vám pomůže získat maximum z vašeho rastrovacího elektronového mikroskopu (SEM), ať jde o identifikaci průmyslového znečištění nebo vědecký výzkum.
Ramanův analyzátor Virsa™
Pro jednoúčelové Ramanovy analýzy lze interface inLux připojit k Ramanovu analyzátoru Virsa. Analyzátor Virsa představuje kompaktní a ekonomicky výhodné řešení SEM Ramanovy analýzy s vysokou citlivostí a spektrálním rozlišením, očekávaným od špičkového Ramanova systému.
Více informací o analyzátoru Virsa
Konfokální Ramanův mikroskop inVia™
Připojení interface inLux ke konfokálnímu Ramanovu mikroskopu inVia, doplňující SEM analýzu, představuje nejprodávanější špičkový Ramanův mikroskop na světě. Mikroskop inVia poskytuje nejlepší výkon a citlivost s konfigurovatelným rozsahem excitačních vlnových délek laseru, detektorů a mřížek. Je ideální pro analýzu libovolného Raman-aktivního materiálu. Mikroskop inVia lze používat nezávisle pro Ramanovu analýzu. Když nejsou požadována měření in situ, může být váš rastrovací elektronový mikroskop (SEM) k dispozici jiným uživatelům.
Více informací o Ramanově mikroskopu inViaChcete se dozvědět více?
Náš místní zástupce rád odpoví na vaše dotazy.
Můžete nás kontaktovat vyplněním formuláře nebo zasláním emailu.
Získejte poslední novinky
Udržujte si přehled o našich posledních inovacích, novinkách, aplikacích a nově uváděných produktech a získávejte aktualizace přímo do vaší poštovní schránky.
Dokumenty ke stažení: Interface inLux SEM Raman
-
Brochure: inLux™ scanning electron microscope Raman interface [en]
The innovative inLux SEM Raman interface brings high-quality Raman functionality to your SEM chamber. Now you can collect Raman spectra that can produce images in 2D and 3D whilst simultaneously imaging in SEM.
Specifikace
| Parametry | Hodnota |
| Hmotnost | < 20 kg |
| Délka optického kabelu | 4,6 m |
| Kompatibilní Ramanovy spektrometry | Konfokální Ramanův mikroskop i analyzátor Virsa společnosti Renishaw |
| Kompatibilní modely SEM | Kompatibilita s modely SEM všech hlavních výrobců |
| Požadavky na port SEM | Vyžaduje volný boční nebo zadní port SEM |
| Výkon SEM | Interface inLux nevyžaduje žádné úpravy SEM a není-li používán, lze jej plně odsunout, takže neinterferuje s činností SEM nebo jiného příslušenství. |
| Řízení pohybu | Trackpad, software WiRE |
| Ochrana kontaktu | Dotykový snímač, bezpečný pracovní prostor monitorovaný absolutními snímači |
| Bezpečnost při práci s laserovými zařízeními | Laser blokovaný vakuem komory |
| Ramanovo zobrazování/mapování | Dodávané standardně |
| Výběr optického modulu | Až dvě různé excitační vlnové délky laseru + volitelný katodoluminescenční modul |
| Použitelné excitační vlnové délky laseru | 405 nm, 532 nm, 660 nm, 785 nm (další jsou k dispozici na přání) |
| Přepínání laseru | Automatizované, motorizované a řízené softwarem |
| Laterální prostorové rozlišení | < 1 µm při 532 nm |
| Konfokální výkon | < 6 µm při 532 nm |
| Spektrální rozlišení | Viz list s technickými údaji spektrometru |
| Rozměry | Š 804 mm × V 257 mm × H 215 mm |