XM-60 和 XM-600 多光束校正儀效能規格
介於 0 和 4 公尺之間
線性 | |
量測精度 | ±0.5 ppm(含環境補償) |
解析度 | 1 nm |
量測範圍 | 0 m 至 4 m |
角度(傾角/偏擺角) | |
精度 | ±0.004A ± (0.5 μrad + 0.11M μrad) (A = 顯示的誤差讀數) (M = 以公尺為單位的量測距離) |
解析度 | 0.03 μrad |
量測範圍 | ±500 µrad |
真直度 | |
量測精度 | 一般距離:±0.01A ±1 μm 延伸範圍:±0.01A ±1.5 μm (A = 顯示的誤差讀數) |
解析度 | 0.25 μm |
量測範圍 | 一般距離:±50 µm 半徑 延伸範圍:±250 µm 半徑 |
側轉角 | |
精度 | ±0.01A ±6.3 μrad (A = 顯示的誤差讀數) |
解析度 | 0.12 μrad |
量測範圍 | ±500 µrad |
精度值的統計信心水準為 95% (k=2),其中並未包括讀數標準化為材料溫度 20 °C 的相關誤差。
介於 4 和 6 公尺之間
- 4 m 及 6 m 之間的線性、角度和真直度量測的效能規格,與 0 m 及 4 m 之間相同。
- 4 m 及 6 m 範圍之間的側轉角量測效能規格為:
側轉角 | |
精度 | ±0.01A ±10.0 μrad (A = 側轉角誤差 (µrad)) |
解析度 | 0.12 μrad |
量測範圍 | ±500 µrad |
精度值的統計信心水準為 95% (k=2),其中並未包括讀數標準化為材料溫度 20 °C 的相關誤差。量測距離若超過 4 公尺,就需要在 XM 發射端和接收端之間妥善對齊。如果因為錯位造成接收的雷射訊號強度低於 4%,CARTO 軟體就會告知使用者需要加強對齊。
6 公尺以上
- 6 m 及 8 m 之間線性及角度量測的效能規格,與 0 m 及 4 m 之間相同。
- 6 m 及 8 m 之間的真直度量測效能規格尚待確認。
- 6 m 及 8 m 之間的側轉角量測效能規格尚待確認。
精度值的統計信心水準為 95% (k=2),其中並未包括讀數標準化為材料溫度 20 °C 的相關誤差。量測距離若超過 4 公尺,就需要在 XM 發射端和接收端之間妥善對齊。如果因為錯位造成接收的雷射訊號強度低於 4%,CARTO 軟體就會告知使用者需要加強對齊。