Raman a AFM

Kombinace Ramanových mikroskopů inVia se skenovacími snímacími mikroskopy

Ramanův mikroskop inVia lze připojit k široké škále skenovacích snímacích mikroskopů, např. mikroskopů společnosti Nanonics Imaging Ltd.

Tyto kombinované přístroje mohou pracovat v mnoha skenovacích snímacích režimech a umožňují uživatelům zkoumat mnoho vlastností materiálů v měřítku nanometrů.

Několik příkladů:

• Kombinace AFM a Ramanovova spektrometru - sběr Ramanových dat sve vzdáleném optickém poli
  Umožňuje získání topgrafie vzorku s vysokým rozlišením včet ně Ramanových spekter v optickém rozlišení typicky 0,5 mikronů. Ramanova data lze zaznamenat a korelovat s topografickými, elektrickými, tepelnými a optickými daty blízkého pole s vysokým prostorovým rozlišením.
• Ramanova data blízkého pole bez využití apertury
  K zesílení Ramanova signálu se používá hrot s nanočastečky zlata nebo stříbra,který je v kontaktu s povrchem vzorku , která je excitována laserovým svazkem. Tato metoda nabízí vysoké prostorové rozlišení Ramanoých dat blízkého pole (NSOM), avšak s vyššími úrovněmi signálu.
• Ramanova data získaná metodou blízkého pole (NSOM)
  Tato metoda využívá subapertury o průměru nekolika nm (hrot kuželového optického vlákna) k přivedení laserového svazku na vzorek, výsledkem jsou Ramanova spektra s vysokým prostorovým rozlišením.