Nanotechnologie

Obsah stranyMateriály ke staženíZavolat místní kancelář Kontaktujte nás on-line

TERS and AFM images of SiO2/Si pattern Konvenční Ramanova spektroskopie je omezena dosahovaným prostorovým rozlišením na úrovni mikronů. Díky novým technikám a materiálům je možné získávat informace ze struktur na submikronové nebo nanometrové úrovni. Ramanovu spektroskopii je například možné používat pro klasifikaci průměru uhlíkových nanotrubek, podle frekvence RBM (radial breathing mode),která odpovídá průměru nanotrubky. Nové produktové inovace, jako je oceněný Ramanův mikroskopický systém Nanonics NSOM/AFM 100 Confocal™/Renishaw, prokazují vynikající prostorové rozlišení, lepší, než jaké je možné při využití běžného světelného mikroskopu kde je rozlišení omezeno difrakčního limitem.

Vložený obrázek ukazuje simultánně zěmřené AFM a Ramanova data ze vzorku SiO2/Si, které byly získány pomocí Ramanova mikroskopického systému Nanonics NSOM/AFM 100 Confocal™/Renishaw; s dosahovaným prostorovým rozlišením přibližně 250 nm. Tuto instrumentaci je také možné nakonfigurovat tak, aby bylo možné využívat speciálních technik jako je například hrotem zesílená Ramanova spektroskopie (TERS). Speciálně upravený AFM hrot zajišťuje vysoce lokalizované zesílení Ramanova signálu ve velmi malé oblasti a díky tomu je možné získat Ramanovy informace při mnohem větším prostorovém rozlišení než u konvenčních Ramanových technik.

Upozorňujeme, že pro stahování dokumentů je nutná registrace.

Dokumenty ke stažení

 

SEM image of carbon nanotubes

Studie SEM-SCA jednostěnných nanotrubek

Poznámka k aplikaci: Studie jednostěnných nanotrubek pomocí strukturálního a chemického analyzátoru Renishaw pro skenovací elektronové mikroskopy

[76 kB]

Adobe acrobat PDF


TERS and AFM images of SiO2/Si pattern

Kombinace skenovací snímací mikroskopie s Ramanovou spektroskopií: nový nástroj nanotechnologie

Dokument ilustrující použití AFM mikroskopie a Ramanovy spektroskopie ke studii nanotechnologií. Jsou uvedeny příklady systémů Raman-AFM a TERS (tip-enhanced-Raman-scattering - hrotem zesílený Ramanův rozptyl).

[267 kB]

Adobe acrobat PDF

Vybrané publikace


Temperature-mediated growth of single-walled carbon-nanotube intramolecular junctions (2007), Yagang Yao et al, Nature materials, 6, 283-286

Elimination of D-band in Raman spectra of double wall carbon nanotubes by oxidation (2005), S Osswald et al, Chemical Physics letters, 402, 422-427

Near-Field scanning Raman microscopy using apertureless probes (2003), W X Sun et al, Journal of Raman spectroscopy, 34, 668-676

Anomalous two-peak G’ band Raman effect in one isolated single-wall carbon nanotube (2002), A G Souzo Filho et al, Physical Review B, 65, 085417-1 to 085417-7

Newsletter

All the latest innovations in Raman spectroscopy - newsletter sign up here

Download past and present newsletters from our Newsletter archive

Rychlé Ramanovo zobrazování StreamLine™ PlusStreamLine™ image of a tablet

Flexibilní a rychlý Ramanův zobrazovací systém společnosti Renishaw

Další kroky

Kontaktujte nás on-line, požadujete-li další informace nebo máte dotaz na cenu, případně můžete chtít hovořit přímo s vaším místním zastoupením společnosti Renishaw.