Nanotechnologie
Vložený obrázek ukazuje simultánně zěmřené AFM a Ramanova data ze vzorku SiO2/Si, které byly získány pomocí Ramanova mikroskopického systému Nanonics NSOM/AFM 100 Confocal™/Renishaw; s dosahovaným prostorovým rozlišením přibližně 250 nm. Tuto instrumentaci je také možné nakonfigurovat tak, aby bylo možné využívat speciálních technik jako je například hrotem zesílená Ramanova spektroskopie (TERS). Speciálně upravený AFM hrot zajišťuje vysoce lokalizované zesílení Ramanova signálu ve velmi malé oblasti a díky tomu je možné získat Ramanovy informace při mnohem větším prostorovém rozlišení než u konvenčních Ramanových technik. Upozorňujeme, že pro stahování dokumentů je nutná registrace. Dokumenty ke stažení
Vybrané publikace
Elimination of D-band in Raman spectra of double wall carbon nanotubes by oxidation (2005), S Osswald et al, Chemical Physics letters, 402, 422-427 Near-Field scanning Raman microscopy using apertureless probes (2003), W X Sun et al, Journal of Raman spectroscopy, 34, 668-676 Anomalous two-peak G’ band Raman effect in one isolated single-wall carbon nanotube (2002), A G Souzo Filho et al, Physical Review B, 65, 085417-1 to 085417-7 NewsletterAll the latest innovations in Raman spectroscopy - newsletter sign up here Download past and present newsletters from our Newsletter archive Rychlé Ramanovo zobrazování StreamLine™ Plus |