Interface jednotky pro laserové odměřovací systémy
Flexibilní interface jednotky pro aplikace s vysokým rozlišením.
Paralelní interface RPI30
RPI30 zpracovává diferenciální analogové signály 1 Vpp sin/cos, interpoluje je 4096x a na výstupu poskytuje data v paralelním formátu s rozlišením až 36 bitů. Při použití v kombinaci se dvouosým interferometrickým systémem s rovinným zrcadlem (PMI) (základní perioda sinusoidy je jmenovitě 158 nm), je výsledkem nejnižší platný bit (LSB) 38,6 pikometrů při rychlostech až 2 m/s.
Aktivní Lissajousovu korekci lze aktivovat pro kompenzaci DC offsetu a AC neshody laserového snímače pro zlepšení chyby interpolace (SDE) na ±0,1 při nízkých rychlostech.
Funkce a výhody
- Vysoká přesnost - nízký podíl SDE (±0,1 nm).
- Aktivní SDE korekce - redukce chyb odměřování polohy.
- Polohová data - převádí analogové kvadraturní signály 1 Vpp z RLE na polohovou hodnotu prostřednictvím paralelní sběrnice.
- Aktivní aktualizace - DC offset a AC neshoda.
- Snadný přístup - diagnostická přípojka pro dálkové stahování a analýzu.
- Řešení pro více os - výstup polohy a stavu dvou os přes kompatibilní sběrnici LVTTL (3,0 V).
- Komunikační protokol - polohová data jako 36 bitů (dvojkové komplementární slovo) a volba LSB.
- Aktuální stav - obsahuje intenzitu signálu a příznaky chyb.
Parametry
| Systém s rovinným zrcadlem | Systém s odrážečem | |
| Rozlišení | 38,6, 77,2, 154,4 nebo 308,8 pm | 77,2, 154,4, 308,8 nebo 617,6 pm |
| Maximální rychlost | 2 m/s | 4 m/s |
| Výstupní signál | 36bitů (dvojkový komplement) | 36bitů (dvojkový komplement) |
| Podíl SDE* (vyjma RLE a bez aktivované korekce) | PMI - rovinné zrcadlo | RRI - odrážeč |
| Rychlost < 50 mm/s (PMI) Rychlost < 100 mm/s (RRI) Intenzita signálu > 25% | <±0,5 nm | <±1,0 nm |
| Rychlost > 50 mm/s a < 2 m/s Rychlost > 100 mm/s a < 4 m/s | <±2,0 nm | <±4,0 nm |
| SDE* (včetně RLE s aktivovanou korekcí) | PMI - rovinné zrcadlo | RRI - odrážeč |
| Rychlost < 50 mm/s (PMI) Rychlost < 100 mm/s (RRI) Intenzita signálu > 50% | <±0,1 nm | <±0,2 nm |
RPI20 Paralelní interface
RPI20 převádí analogové kvadraturní signály 1 Vpp z interferometrického odměřovacího systému RLE na 4096x interpolované signály s vysokým rozlišením.
Funkce a výhody
- Vysoké rozlišení - až 4096x interpolované analogové kvadraturní signály.
- Víceosá řešení – možnost řízení až sedmi os z jedné sběrnice.
- Rychlá komunikace - se šířkou pásma vstupu <6,5 MHz a 36bitovým paralelním výstupním formátem.
- Vysoká přesnost - nízký podíl SDE (± 0,5 nm).
Volitelná dvouosá interface karta VME, umožňující používat RPI20 v systémové architektuře VME.
Parametry
| Rozlišení | 38,6 pikometrů (systém s rovinným zrcadlem) 77,2 pikometrů (systém s odrážečem) |
| Maximální rychlost | 1 m/s (systém s rovinným zrcadlem) 2 m/s (systém s odrážečem) |
| Výstupní signál | 36bitové paralelní slovo |
PMI | PMI | RRI | RRI | |
| Rychlost | < 50 mm/s | <1 m/s | < 100 mm/s | <2 m/s |
| SDE* | 0,5 nm | 2 nm | 1 nm | 4 nm |
Interface jednotka RLI20-P - Panasonic
RLI20-P je interface laserového odměřovacího systému společnosti Renishaw pro řídicí systémy Panasonic (řady MINAS A5). Analogové kvadraturní signály 1 Vpp z laserového snímače procházejí vysokorychlostním interpolátorem, než jsou zapsány na výstup jako inkrementální pozice ve formátu RS485.
Funkce a výhody
- Panasonic kompatibilní - přímá kompatibilita s řídicím systémem Panasonic (řady MINAS A5).
- Rychlá komunikace - vysoce rychlá interní aktualizace polohy (100 MHz).
- Vysoká přesnost - nízký podíl SDE (± 0,5 nm).
Parametry
| Rozlišení | 1 nm (systém s rovinným zrcadlem) 2 nm (systém s odrážečem) |
| Maximální rychlost | 1 m/s (systém s rovinným zrcadlem) 2 m/s (systém s odrážečem) |
| Výstupní signál | 2,5 Mbps RS485, kompatibilní s řídicími systémy Panasonic řady MINAS A5 |
PMI | PMI | RRI | RRI | |
| Rychlost | < 50 mm/s | <1 m/s | < 100 mm/s | <2 m/s |
| SDE* | 0,5 nm | 2 nm | 1 nm | 4 nm |
RSU10 USB interface
Interface USB RSU10 přijímá sinové/kosinové signály 1 Vpp z RLE systému, interpoluje je 16 384x a poskytuje polohovou hodnotu přes port USB.
Interface RSU10 zabezpečuje kompatibilitu měřených dat s osvědčenými balíky kalibračního softwaru společnosti Renishaw (LaserXL a QuickViewXL). To představuje ideální řešení pro uživatele, kteří potřebují zobrazit a analyzovat dynamická měřená data v reálném čase.
S každou jednotkou RSU10 se dodává vývojová softwarová souprava (SDK) s maximální obnovovací frekvenci 20 kHz, která umožňuje vývoj specializovaného softwaru.
Funkce a výhody
- Vysoké rozlišení - interpolace 16 384x poskytuje signál rozlišení až 9,64 pikometrů při rychlosti 1 m/s.
- Flexibilní software - kompatibilní s osvědčenými kalibračními balíky. Nabízí flexibilitu softwarové vývojové soupravy společnosti Renishaw.
- Automatické snímání dat - funkce spouštění vstupu TPin umožňuje zahájit snímání dat po příjmu externě generovaného signálu.
Parametry
| Rozlišení | 9,64 pikometrů (systém s rovinným zrcadlem) 19,28 pikometrů (systém s odrážečem) |
| Maximální rychlost | 1 m/s (systém s rovinným zrcadlem) 2 m/s (systém s odrážečem) |
| Maximální frekvence aktualizace | 50 kHz (20 Hz max. při použití SDK) |
PMI | PMI | RRI | RRI | |
| Rychlost | < 50 mm/s | <1 m/s | < 100 mm/s | <2 m/s |
| SDE* | 3 nm | 4 nm | 6 nm | 8 nm |
Informace o produktech
Další zajímavé položky
